SEM

SEM是扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope）的缩写。它是一种使用电子束扫描样品表面以获取样品表面微观结构的高分辨率成像技术。扫描电子显微镜可以提供比传统光学显微镜更高的分辨率和更大深度的样品观察，因此在材料科学、生物学、医学、环境科学等领域得到广泛应用。

扫描电子显微镜通过发射一束高能的电子，这些电子与样品表面相互作用，产生各种信号（如二次电子、反射电子等），这些信号被检测器捕获并转化为图像，从而可以观察到样品的表面形态、结构、成分等信息。此外，SEM还可以配合各种附件进行更高级的分析，如X射线能谱仪（EDS）进行元素分析，或者电子束诱发X射线分析仪进行晶体结构分析等。

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